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掃描俄歇微探針（SAM）

放大字體  縮小字體 發(fā)布日期：2013-05-30
核心提示：掃描俄歇微探針（SAM）；基本功能：　�。�1）可進(jìn)行樣品表面的微區(qū)選點(diǎn)分析（包括點(diǎn)分析，線(xiàn)分析和面分析）；　�。�2）可進(jìn)行深度
 掃描俄歇微探針（SAM）；
 基本功能：
　�。�1）可進(jìn)行樣品表面的微區(qū)選點(diǎn)分析（包括點(diǎn)分析，線(xiàn)分析和面分析）；
　�。�2）可進(jìn)行深度分析；
　�。�3）化學(xué)價(jià)態(tài)研究
 用途：
納米薄膜材料，微電子材料的表 面和界面研究及摩擦化學(xué)研究。
編輯：songjiajie2010

 
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關(guān)鍵詞： 化學(xué)價(jià)態(tài)
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