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質(zhì)譜專業(yè)用語匯總,不用再擔心看不懂了!

放大字體  縮小字體 發(fā)布日期:2021-12-31
核心提示:質(zhì)譜分析不同于液相和氣相,還是比較難的,特別是一些專業(yè)術語,沒做過的人是真的看不懂,所以小編今天來普及一下,掃掃盲。豐度
質(zhì)譜分析不同于液相和氣相,還是比較難的,特別是一些專業(yè)術語,沒做過的人是真的看不懂,所以小編今天來普及一下,掃掃盲。


豐度

 

類似于UV檢測器上的吸光度在背景值上信號的垂直增加,表示某特定離子的強度(當x軸被校正為質(zhì)量單位)或存在的總離子強度(當水平軸被校正為時間或掃描)。單個被測物或化合物產(chǎn)生的所有碎片離子分別與基峰相比的值(每個離子的相對豐度)被作為該化合物的特定碎裂模式,進行質(zhì)譜圖。


 

準確測定的質(zhì)量

 

以一定誤差值測得的化合物質(zhì)量數(shù),如測量誤差為5ppm。精確測定的質(zhì)量通常也用于指具體的技術,而不是測量的質(zhì)量。精確質(zhì)量是化合物質(zhì)量的準確理論值。


 

常壓固體分析探針(ASAP)

 

在1970年代,基于Horning的工作,由McEwen和McKay開發(fā)了這種形式的樣品電離途徑,使用標準的APCI等離子體,通過將樣品放置入加熱的氮氣流中,形成離子。加熱揮發(fā)非常多的樣品,通過與APCI等離子體形成的亞穩(wěn)定離子之間的電荷交換形成離子。使用質(zhì)量精度高的質(zhì)譜儀,能從復雜混合物中相對清楚的鑒定出低含量水平的單個化合物。也可參見DART和DESI。


 

大氣壓電離(API)

 

該專業(yè)用語通常指的是,諸如電噴霧電離(ESI)、大氣壓化學電離(APCI)和其它在大氣壓下操作的技術。


 

大氣壓化學電離(APCI)

 

原本稱為溶劑介導的電噴霧,通常有效的應用于直接脫離溶液不易電離的中性分子。APCI在尖銳的針尖提供電流,被放置在進入的氣霧流中,以建立來自溶液自身的亞穩(wěn)離子等離子體,當被分析物通過等離子體時,將來自這些離子的電荷傳遞給被分析物。加熱LC或溶劑流通過的探針,形成氣溶膠。


 

常壓氣相色譜

 

由DuPont的Chales McEwen于2002年開發(fā)而來。使用加熱的轉(zhuǎn)移管線,GC流出物能夠引入到質(zhì)譜儀的標準API(或ESI/APCI)離子源。這便于那些適合用GC分析的化合物簡單方便地從ESI向GC轉(zhuǎn)換。電離方式可以是APCI或APPI。


 

大氣壓光電離(APPI)

 

1980年代已被開發(fā)出,但是在2000年后,發(fā)現(xiàn)氪氣燈能夠產(chǎn)生10eV(大約)足夠的光子能量,電離諸如PAH和甾體等通常不適合采用ESI和APCI電離的非極性被測物,這項技術才被商業(yè)化。


 

基峰

 

通常指與波譜圖中其它峰相比最強的峰;在能給出大量結(jié)構信息的電離技術中,比如EI,基峰可能不是母離子或分子離子。


 

校正

 

通常以恒定流速導入已知的物質(zhì),質(zhì)譜儀軟件按指定的過濾條件(例如,四級桿質(zhì)譜儀的RF/DC比率)采集信號。將采集信號與參照文件比較后,在軟件中建立校對查詢表。然后將校正表作為通過四級桿質(zhì)荷比的基準,分配具體數(shù)值。


 

電荷殘留機制

 

該機制與電噴霧電離相關;1968年由Malcolm Dole第一次提出該理論,在該理論中,他假定當小液滴揮發(fā)時,其電荷仍然保持不變。液滴的表面張力最終不能平衡帶電電荷的斥力,將小液滴炸裂成很多的更小液滴。持續(xù)發(fā)生庫侖分解,直到小液滴只含單一的被測物離子。當溶劑從最后形成的小液滴中揮發(fā)掉,將形成氣相離子。


 

化學電離(CI)

 

通過導入反應試劑,在低真空(0.4托)誘發(fā)碰撞,以增加分子離子的產(chǎn)率和提高靈敏度;因為這種電離,相比于電子撞擊電離,是一能量非常低的過程,所得碎片減少,通常稱為軟電離技術。可參見電子電離中的相關內(nèi)容。


 

碰撞誘導解離(CID)

 

也稱碰撞激活解離(CAD),是氣相中破碎成分子離子的一種機制,分子離子通過在真空區(qū)域加速(采用電勢)到高動能,隨后與中性分子,如氦、氮或氬,碰撞,碎裂形成碎片離子。一部分動能通過碰撞轉(zhuǎn)化或內(nèi)化,結(jié)果使化學鍵斷裂,分子離子碎裂為更小的片段。一些類似的‘特殊目的'的破碎方法,包括電子轉(zhuǎn)移解離(ETD),電子捕獲解離(ECD)。


 

實時直接分析(DART)

 

2002年,由Robert Cody和其它研究人員開發(fā)出,在應用上類似于DESI,雖然在功能上更接近于APCI。樣品放置在一種底物之上,通過類似于APCI的過程,形成的高能粒子,轟擊樣品。更確切的說,通過等離子體形成亞穩(wěn)離子,再由加熱后的氮氣,直接將亞穩(wěn)離子輸送到靶點。


 

延時提取 (DE)

 

為MALDI-TOF質(zhì)譜儀開發(fā)的一項技術,在離子形成后,加速離子進入飛行管之前,冷卻"并聚焦離子大約150納秒。與未冷卻的離子相比,冷卻的離子具有較低的動能分布,當冷卻離子進入TOF分析器時,冷卻離子最終降低離子時間展寬,結(jié)果增加了分辨率和準確度。DE對大分子不具有顯著的效益(例如,蛋白質(zhì)>30000Da)。


 

解離-電噴霧電離 (DESI)

 

在2002年,Graham Cooks第一次描述了該電離技術,將其作為從惰性基質(zhì)表面(通常條件下)產(chǎn)生軟次級離子的方式。該技術類似于MALDI,使用ESI探針,以相對于惰性基質(zhì)表面大約50度的入射角瞄準,使離子化學噴射,進入質(zhì)譜儀。已表明不需樣品制備,能得到直接來自很多極性和非極性表面材料的信息(皮膚,完整水果上檢測藥物殘留等等)。


 

硅上的脫吸電離(DIOS)

 

曾經(jīng)被視為MALDI制備樣品的基質(zhì)替代物,尤其對小分子,因為基底(裸露的硅表面)不產(chǎn)生干擾離子。在1990年代后期,其商業(yè)潛力減小,因為板的制造存在難處,并且表面容易被污染。


 

直流電流

 

當描述四級桿作為質(zhì)量過濾器怎樣工作時,這一專業(yè)用語通常與"射頻"聯(lián)合使用。在1953年,Wolfgang Paul證明在4根平行桿之間,將射頻(RF)和恒定直流電流(DC)電勢疊加,可作為質(zhì)量分離器或過濾器,只有特定質(zhì)量范圍的離子,可以恒定振幅振蕩,通過四極桿而被分析器收集。


 

電子電離 (EI)

 

有時錯誤地稱為"電子撞擊"電離,這種電離技術是電子與顆粒(原子或分子)相互作用的結(jié)果;該技術被認為是‘硬'電離技術,因為電離過程中傳遞大量能量,破壞分子內(nèi)部化學鍵,破壞這些化學鍵需要高達千卡/摩爾的能量。電離電壓(通常70eV)指的是引起電子加速的電壓差,該電壓誘導電子電離。不同于CI,EI通常在高真空下工作,以避免不可控的碰撞。分析器也在非常高的真空下工作(10-4到10-6托)。


 

電噴霧電離(ESI)

 

為所謂的‘軟'電離技術。大氣壓電離(API)是已被廣泛使用的技術。自從1980年代后期以來,該技術顯示出顯著的商業(yè)價值,這要歸功于,對引導流體在其內(nèi)部流動的導電管(不銹鋼毛細管)施加過多的能量(電壓范圍在3-5千伏),當液體從導電管經(jīng)過時,超過瑞利極限,形成氣溶膠而被射出,產(chǎn)生包含離子,半徑大約為10微米的氣溶膠液滴。通常離子被質(zhì)子化,以M+H的陽離子模式或M-H的負離子模式,被檢測。


 

元素分析

 

離子、分子或自由基的名義質(zhì)量是,其基本組成元素名義質(zhì)量的總和。準確質(zhì)量測定基于計算的基本組成,但是‘元素分析'通常針對無機材料-只確定基本的組成,不確定結(jié)構-在一些情況下,可分析固體金屬樣品。誘導偶合等離子體(ICP)源通常通過放電(或較低能量的發(fā)光放電)電離樣品。在萬億分之一水平使用精密儀器檢測則不常見。


 

精確質(zhì)量

 

化合物質(zhì)量的準確理論值。準確測定質(zhì)量是化合物的質(zhì)量測定值,存在測量誤差,如5ppm。準確測定質(zhì)量也通常是指具體的技術,而不是測量的質(zhì)量。


 

快原子轟擊(FAB)

 

是較早的所謂的軟電離技術之一,轟擊的結(jié)果通常有密集的分子離子,并且?guī)缀醪话l(fā)生碎裂。被測物放入流動的基質(zhì)中(通常是甘油),或更常見置于探針的頂端,然后將其置于高能原子的路徑上-通常是氙或化銫。該技術對分子量大于10000原子單位的生物分子有效,但可與扇形磁場聯(lián)用的特點更加重要,使用這種聯(lián)用技術,能夠確定準確的質(zhì)量,比如新合成的肽。靈敏度可能非常高(低飛摩爾水平)。這項技術可能難于掌握,甘油污染質(zhì)譜儀離子源,甘油離子的存在,可能掩蓋較低的質(zhì)量。自從ESI引入后,該技術很少使用。


 

場電離 (FI)

 

FI為軟電離技術,對大量的各種被測物,幾乎沒有碎裂作用。該技術對石油化學方面的應用尤其顯著,在這個領域里,采用其它電離技術會有局限性,因為存在碎裂(EI)問題或其電離特點復雜(CI)。帶高電壓的一根細金屬絲,在有機化合物蒸汽中,比如茚,被加熱。產(chǎn)生的呈樹突狀沉積在金屬絲表面的結(jié)構,被熱分解,生成非常纖細的傳導纖絲。當在非常纖細的點,施加高電勢,將在其尖端產(chǎn)生非常強的電場,這就提供了發(fā)生場電離的條件。樣品分子貼近通過FI發(fā)射極形成的大量碳樹突狀結(jié)晶的尖端。FI發(fā)射極與一對空提取桿貼近放置。發(fā)射極為地電勢,提取桿施加相對高的電壓(12kv),這樣在碳樹突狀結(jié)晶的尖端周圍,形成非常高的電場。GC柱緊靠發(fā)射極金屬絲,并與其成一直線。在電場的作用下,出現(xiàn)分子價電子的量子通道,釋放出離子基。


 

流動注射分析(FIA)

 

這是通過LC進樣器導入樣品的分析(通常事先純化,去掉干擾物,減少結(jié)果譜圖的復雜性),但是不接色譜柱。LC只作為樣品導入裝置。


 

細絲

 

在電子電離中,細絲是電子的來源,電子與被測物相互作用,引起電離。通常由金屬絲制成(扁平或圓形),在電流加熱時,釋放出70eV的電子。


 

碎片離子

 

碎片離子是由母體分子離子發(fā)生碎裂產(chǎn)生。解離出的所有碎片的質(zhì)量數(shù)之和等于母離子的質(zhì)量數(shù),在指定的條件下,以可預測的方式,斷裂相同的內(nèi)鍵,分子碎裂方式是可以預測的(碎片離子相同,其相對豐度也相同)。也可參見從具體MRM試驗得到的產(chǎn)物(子代)離子。


 

氣相離子

 

為了質(zhì)譜儀能夠工作和采集,被測物必須實現(xiàn)從靜止狀態(tài)像離子狀態(tài)轉(zhuǎn)換。如該手冊所述,有很多途徑完成這一轉(zhuǎn)換-一些途徑采用比較激烈方式產(chǎn)生碎片,而另外的一些途徑能保持被測物完好。能量作用于被測物,在氣相產(chǎn)生離子,跟在LC中根據(jù)冷凝相用于被測物分離的過程完全相反。


 

均方根誤差測定(RMS)

 

為評估儀器質(zhì)量準確測量功能(類似于預期使用)的綜合方法,數(shù)值上等于均方根或RMS誤差。RMS誤差按下列關系計算,在此Eppm是ppm誤差,n是考察質(zhì)量的個數(shù)。RMS =n


 

掃描

 

通過計算機調(diào)整控制電壓(DC和RF),在指定的范圍內(nèi),隨時間掃描(檢測)給定質(zhì)量范圍內(nèi)的任何帶電顆粒。能夠檢測多種帶電離子則會降低靈敏度,因為檢測器能夠響應一些目標離子,但檢測器卻被設置在其它的檢測范圍。參見選定離子的監(jiān)測,四級桿和離子電流章節(jié)的內(nèi)容。


 

選定離子的監(jiān)測(SIM)

 

也稱為選定離子的記錄(SIR);也可參閱四級桿和掃描。

在四級桿上,能夠調(diào)節(jié)DC和RF電壓設置,僅讓一個帶電顆粒通過(單質(zhì)荷比)到達檢測器。結(jié)果噪音顯著減少,當靈敏度顯著增加時,出現(xiàn)信號(此m/z的所有顆粒始終被檢測),這完全以檢測不到混合物中的其它質(zhì)荷比的顆粒為代價。熱噴霧雖然文獻報道這種類型的接口已有一段時間,但是直到1980年代早期才普及。Vestal和Blakely應值得贊賞,因為他們在LC和MS之間首次建立了實際可行,完全商業(yè)化的接口技術。大約流速1mL/min的LC溶劑在探針中,被加熱(絕緣管大約1-2英尺長,75-150微米的內(nèi)徑),形成的蒸汽噴入質(zhì)譜儀。質(zhì)譜儀中的氣溶膠液滴被進一步去溶劑,形成離子,進入分析器(以適合的角度噴射),會受到透鏡電壓的影響。參見掃描,離子電流。 
編輯:songjiajie2010

 
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關鍵詞: 質(zhì)譜
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